Société de services privée, nous proposons une expertise en caractérisation avancée des surfaces et interfaces pour le développement des matériaux, procédés et produits innovants de nos clients, grâce à notre parc instrumental unique permettant une approche multi technique complémentaire des propriétés chimiques, moléculaires, physiques, mécaniques et micro structurales, et multi échelles : du nanomètre à plusieurs centaines de microns. Les techniques de caractérisation proposées regroupent les spectroscopies XPS et Tof SIMS et les microscopies AFM et électroniques TEM et SEM couplée à de la FIB et des analyseurs EDS et EBSD.